吉時利先進器件測量和材料表征技術(shù)研討會

吉時利先進器件測量和材料表征技術(shù)研討會

吉時利身為新興測量需求解決方案，長期致力于不斷推出新產(chǎn)品、新技術(shù)和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測試測量需求。我們歡迎中國工程師朋友們通過三地的研討會了解這些產(chǎn)品和方案，為他們的工程項目帶來*的測試解決方案。"吉時利市場部潘斌說道，“從微弱信號測量到先進的納米器件測試，從的器件設(shè)計研發(fā)到制程可靠性的測試，從先進的存儲器測試到新能源器件的測試，吉時利的經(jīng)典產(chǎn)品—半導體器件測試系統(tǒng)為廣大業(yè)內(nèi)客戶提供了強大的測試手段。"

屆時，吉時利資深技術(shù)應(yīng)用工程師將在研討會現(xiàn)場與出席本次研討會的工程師深入交流下面主要領(lǐng)域的技術(shù)與解決方案：

先進的材料和器件特性分析系統(tǒng)
先進的材料和器件特性分析系統(tǒng)4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導體工藝電學特性分析的完整解決方案。這種先進的參數(shù)分析儀具有*的測量靈敏度和精度，同時集成了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時利交互式測試環(huán)境，廣泛地應(yīng)用于先進半導體材料和器件，綠色能源器件，納米電子材料和器件的特性分析。4200-SCS系統(tǒng)為科研人員提供了直觀而的功能，是一套功能強大的單機解決方案。

半導體C-V測試技術(shù)和技巧
電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結(jié)構(gòu)。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析，包括雙極結(jié)型晶體管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管（CNT）和多種其他半導體器件。吉時利在C-V測試方面有著豐富的經(jīng)驗，可以提供zui完整的C-V測試庫。

納米器件、半導體參數(shù)、WLR晶圓級可靠性和存儲器測試
本主題將介紹納米器件測試、半導體參數(shù)測試，以及WLR晶圓級可靠性測試、存儲器測試。專家將現(xiàn)場分享如何提高測試系統(tǒng)對新材料、器件和工藝進行特征分析的能力，輕松實現(xiàn)DC、I-V、C-V和脈沖測試測量以及微弱信號測量難點與應(yīng)對方案等。

吉時利2450 型觸摸屏數(shù)字源表
吉時利2450型觸摸屏數(shù)字源表是容性觸摸屏SMU，所以加電后立即就能直觀輕松地設(shè)置和使用。本次研討會上，吉時利的專家將現(xiàn)場介紹全新推出的SMU 2450，提供功能展示。嶄新的界面與操作，令您耳目一新！

使用電源測量直流功耗優(yōu)化產(chǎn)品耗電特性
低功耗產(chǎn)品的電池耗電特性是研發(fā)工程師關(guān)注的重要問題，吉時利PMS 2280S精密測量電源為產(chǎn)品的直流耗電測量提供了全新的解決方案。在輸出更大功率的同時，仍然保持了高品質(zhì)的電源性能，以及媲美六位半萬用表的測量精度。為工程師了解產(chǎn)品直流耗電特性提供了強有力的工具。